Научная программа Школы молодых ученых будет содержать пленарные лекции, мастер-классы, устные и стендовые доклады по следующим направлениям:
1. Методики диагностики состава и структуры функциональных материалов с использованием рентгеновского, в том числе синхротронного, излучения;
2. Аппаратно-техническое и программное обеспечение синхротронных и нейтронных исследований;
3. Комплексные исследования структуры и свойств материалов с использованием дифракционных и спектральных методов.
Временная карта Школы находится в файле ниже.
ЛЕКЦИИ И МАСТЕР-КЛАССЫ
К.ф.-м.н. Яценко Д.А.
Моделирование дифракционных картин ультрадисперсных материалов (лекция),
Практические занятия по моделированию дифракционных картин ультрадисперсных материалов в программе DiAnNa (Diffraction Analysis of Nanopowders) (мастер-класс),
Д.ф.м.н. Авакян Л.А.
Молекулярная динамика и XAFS спектроскопия
(лекция, мастер-класс),
Д.х.н. Захаров Б.А.
Применение синхротронного излучения для структурных исследований в условиях высоких давлений (лекция),
К.х.н. Шефер К.И.
Метод радиального распределения электронной плотности (лекция),
К.х.н. Кардаш Т.Ю.
Современные возможности структурных исследований поликристаллических порошков методом Ритвельда (мастер-класс),
К.х.н. Ларичев Ю.В.
Основные принципы обработки данных малоуглового рентгеновского рассеяния (мастер-класс).
Планируются экскурсии в НГУ, ИЯФ СО РАН, ИК СО РАН, на строительную площадку ЦКП «СКИФ».
