Программа конференции

Научная программа Школы молодых ученых включает в себя пленарные лекции (50 минут), устные (10 минут) и стендовые доклады по следующим направлениям:

- Методики диагностики состава и структуры функциональных материалов с использованием рентгеновского, в том числе синхротронного, излучения;

- Аппаратно-техническое и программное обеспечение синхротронных и нейтронных исследований;

- Комплексные исследования структуры и свойств материалов с использованием дифракционных и спектральных методов.

Также в рамках школы планируется круглый стол "Использование искусственного интеллекта в научно-исследовательской деятельности"

Язык школы молодых ученых - русский.

В приложенном файле предварительная временная карта Школы.

Запись на мастер-классы
https://docs.google.com/forms/d/1EJLPaE2ivL72Cy7Qt7px4-7CbBaypW0LQWP-U4vBxyk/edit

Запись на экскурсии
https://docs.google.com/forms/d/17KPxngiAEo-T9ibqPJaDctBJYfJ95uqnc7gwQ5n0-Rc/edit

Лекции

д.ф.-м.н. Я.В. Зубавичус, ЦКП "СКИФ"
название уточняется

Д.В. Дорохова, ИЯФ СО РАН, ЦКП "СКИФ"
Источники СИ.  От начала и до СКИФ.

к.х.н. Т.Ю. Кардаш, ИК СО РАН, НГУ
название уточняется

д.ф.-м.н. В.В. Чернышев, Химический факультет МГУ им. М.В. Ломоносова
Функциональные материалы в свете рентгеновских лучей: современные возможности порошковой дифракции в определении кристаллических структур

д.ф.-м.н. В.В. Каичев, ИК СО РАН, НГУ
Применения синхротронных методов для in situ / operando исследований функциональных материалов

к.ф.-м.н. Е.Ю. Герасимов, ИК СО РАН
Применение электронной микроскопии в качестве комплементарного метода в синхротронных исследованиях функциональных материалов

Мастер-классы

к.ф.-м.н. Д.А. Яценко, ИК СО РАН, НГУ
Практикум по расчету рентгеновских дифракционных картин ультрадисперсных материалов в программе DiAnNa
(Diffraction Analysis of Nanopowders)

к.х.н. Т.Ю. Кардаш, ИК СО РАН, НГУ
название уточняется (уточнение структуры методом полнопрофильного анализа)

к.х.н. Ю.В. Ларичев, ИК СО РАН, НГУ
Основные принципы обработки данных малоуглового рентгеновского рассеяния

д.х.н. А.В. Бухтияров, ЦКП "СКИФ"
Мастер-класс по обработке данных метода Рентгеновской Фотоэлектронной Спектроскопии

Круглый стол
Использование искусственного интеллекта в научно-исследовательской деятельности

к.х.н. А.В. Нартова, ИК СО РАН, НГУ
Применение глубокого машинного обучения для анализа данных микроскопических исследований

к.ф.-м.н. И.В. Гренев, ИК СО РАН, НГУОбучающие наборы данных для задач материаловеденья