Программа конференции

Научная программа Школы молодых ученых включает в себя пленарные лекции (50 минут), устные (10 минут) и стендовые доклады по следующим направлениям:

- Методики диагностики состава и структуры функциональных материалов с использованием рентгеновского, в том числе синхротронного, излучения;

- Аппаратно-техническое и программное обеспечение синхротронных и нейтронных исследований;

- Комплексные исследования структуры и свойств материалов с использованием дифракционных и спектральных методов.

Также в рамках школы планируется круглый стол "Использование искусственного интеллекта в научно-исследовательской деятельности"

Язык школы молодых ученых - русский.

В приложенном файле предварительная временная карта Школы.

Запись на мастер-классы
https://docs.google.com/forms/d/1EJLPaE2ivL72Cy7Qt7px4-7CbBaypW0LQWP-U4vBxyk/edit

Запись на экскурсии
https://docs.google.com/forms/d/17KPxngiAEo-T9ibqPJaDctBJYfJ95uqnc7gwQ5n0-Rc/edit

Лекции

д.ф.-м.н. Я.В. Зубавичус, ЦКП "СКИФ"
Основы использования источников синхротронного излучения для решения научных и технологических задач

Д.В. Дорохова, ИЯФ СО РАН, ЦКП "СКИФ"
Источники СИ.  От начала и до СКИФ.

к.х.н. Т.Ю. Кардаш, ИК СО РАН, НГУ
Метод Ритвельда для структурного анализа поликристаллических образцов

д.ф.-м.н. В.В. Чернышев, Химический факультет МГУ им. М.В. Ломоносова
Функциональные материалы в свете рентгеновских лучей: современные возможности порошковой дифракции в определении кристаллических структур

д.ф.-м.н. В.В. Каичев, ИК СО РАН, НГУ
Применения синхротронных методов для in situ / operando исследований функциональных материалов

к.ф.-м.н. Е.Ю. Герасимов, ИК СО РАН
Применение электронной микроскопии в качестве комплементарного метода в синхротронных исследованиях функциональных материалов

Мастер-классы

к.ф.-м.н. Д.А. Яценко, ИК СО РАН, НГУ
Практикум по расчету рентгеновских дифракционных картин ультрадисперсных материалов в программе DiAnNa
(Diffraction Analysis of Nanopowders)

к.х.н. Т.Ю. Кардаш, ИК СО РАН, НГУ
Уточнение структурных моделей по данным порошковой дифракции в программном пакете GSAS-II

к.х.н. Ю.В. Ларичев, ИК СО РАН, НГУ
Основные принципы обработки данных малоуглового рентгеновского рассеяния

д.х.н. А.В. Бухтияров, ЦКП "СКИФ"
Мастер-класс по обработке данных метода Рентгеновской Фотоэлектронной Спектроскопии

Круглый стол
Использование искусственного интеллекта в научно-исследовательской деятельности

к.х.н. А.В. Нартова, ИК СО РАН, НГУ
Применение глубокого машинного обучения для анализа данных микроскопических исследований

к.ф.-м.н. И.В. Гренев, ИК СО РАН, НГУ
Обучающие наборы данных для задач материаловеденья

к.ф.-м.н. С.Р. Шакиров, ИВМиМГ СО РАН
Создание цифрового двойника ЦКП "СКИФ"

Ссылка для подключения для дистанционного участия в круглом столе

https://meet.google.com/xai-bjtb-qfq

Временная карта школы:
https://docs.google.com/spreadsheets/d/1-wwyCJHUhbqowQNHousV6XucFGekX5kkc523ez4eh6E/edit?usp=sharing

Подробная программа в приложенном файле