Научная программа Школы молодых ученых включает в себя пленарные лекции (50 минут), устные (10 минут) и стендовые доклады по следующим направлениям:
- Методики диагностики состава и структуры функциональных материалов с использованием рентгеновского, в том числе синхротронного, излучения;
- Аппаратно-техническое и программное обеспечение синхротронных и нейтронных исследований;
- Комплексные исследования структуры и свойств материалов с использованием дифракционных и спектральных методов.
Также в рамках школы планируется круглый стол "Использование искусственного интеллекта в научно-исследовательской деятельности"
Язык школы молодых ученых - русский.
В приложенном файле предварительная временная карта Школы.
Запись на мастер-классы
https://docs.google.com/forms/d/1EJLPaE2ivL72Cy7Qt7px4-7CbBaypW0LQWP-U4vBxyk/edit
Запись на экскурсии
https://docs.google.com/forms/d/17KPxngiAEo-T9ibqPJaDctBJYfJ95uqnc7gwQ5n0-Rc/edit
Лекции
д.ф.-м.н. Я.В. Зубавичус, ЦКП "СКИФ"
Основы использования источников синхротронного излучения для решения научных и технологических задач
Д.В. Дорохова, ИЯФ СО РАН, ЦКП "СКИФ"
Источники СИ. От начала и до СКИФ.
к.х.н. Т.Ю. Кардаш, ИК СО РАН, НГУ
Метод Ритвельда для структурного анализа поликристаллических образцов
д.ф.-м.н. В.В. Чернышев, Химический факультет МГУ им. М.В. Ломоносова
Функциональные материалы в свете рентгеновских лучей: современные возможности порошковой дифракции в определении кристаллических структур
д.ф.-м.н. В.В. Каичев, ИК СО РАН, НГУ
Применения синхротронных методов для in situ / operando исследований функциональных материалов
к.ф.-м.н. Е.Ю. Герасимов, ИК СО РАН
Применение электронной микроскопии в качестве комплементарного метода в синхротронных исследованиях функциональных материалов
Мастер-классы
к.ф.-м.н. Д.А. Яценко, ИК СО РАН, НГУ
Практикум по расчету рентгеновских дифракционных картин ультрадисперсных материалов в программе DiAnNa
(Diffraction Analysis of Nanopowders)
к.х.н. Т.Ю. Кардаш, ИК СО РАН, НГУ
Уточнение структурных моделей по данным порошковой дифракции в программном пакете GSAS-II
к.х.н. Ю.В. Ларичев, ИК СО РАН, НГУ
Основные принципы обработки данных малоуглового рентгеновского рассеяния
д.х.н. А.В. Бухтияров, ЦКП "СКИФ"
Мастер-класс по обработке данных метода Рентгеновской Фотоэлектронной Спектроскопии
Круглый стол
Использование искусственного интеллекта в научно-исследовательской деятельности
к.х.н. А.В. Нартова, ИК СО РАН, НГУ
Применение глубокого машинного обучения для анализа данных микроскопических исследований
к.ф.-м.н. И.В. Гренев, ИК СО РАН, НГУ
Обучающие наборы данных для задач материаловеденья
к.ф.-м.н. С.Р. Шакиров, ИВМиМГ СО РАН
Создание цифрового двойника ЦКП "СКИФ"
Ссылка для подключения для дистанционного участия в круглом столе
https://meet.google.com/xai-bjtb-qfq
Временная карта школы:
https://docs.google.com/spreadsheets/d/1-wwyCJHUhbqowQNHousV6XucFGekX5kkc523ez4eh6E/edit?usp=sharing
Подробная программа в приложенном файле
